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· 光學技術文章分享 · Techwiz 不同彩膜結構下的顏色分析TechWiz LCD 2D可以分析液晶盒的顏色和彩膜（Color-Filter，CF）的特性。對于RGB三組結構相同的彩膜結構，可以使用CF層組來搭建，對于RGB三組結構不同的彩膜結構，可以使用單層+多疇層組的方式來進行仿真。 1.

在LC透鏡結構中，可以通過TechWiz LCD 2D進行光程差和焦距的計算，以及包括施加電壓的LC導向分布在內的高級LC分析。 1.

Techwiz LCD 2D新的Lens掩膜結構1. 摘要Techwiz LCD 2D新增Lens掩膜結構，可以方便快捷的對LC 透鏡進行建模分析。 LC透鏡由于體積小、焦距可變等優點，被認為是光學系統中一個很有前景的研究領域。在有限的空間內改變焦距是可能的，因為LC材料的折射率可以通過施加電壓來調節。

Techwiz LCD 2D新的Lens掩膜結構1. 摘要Techwiz LCD 2D新增Lens掩膜結構，可以方便快捷的對LC 透鏡進行建模分析。LC透鏡由于體積小、焦距可變等優點，被認為是光學系統中一個很有前景的研究領域。在有限的空間內改變焦距是可能的，因為LC材料的折射率可以通過施加電壓來調節。

我們可以在TechWiz LCD 2D軟件中調整電極的寬度，錐度，厚度和位置。 1. 案例結構2. 建模過程2.1在TechWiz LCD 2D中創建結構2.2將com電極兩個掩膜的寬度均改為變量（Variable）2.3更改變量的值，并使用Link功能進行鏈接3.

我們可以在TechWiz LCD 2D軟件中調整電極的寬度，錐度，厚度和位置。 1. 案例結構 2.

案例結構 我們可以在TechWiz LCD 2D軟件中調整電極的寬度，錐度，厚度和位置。

許多設計過程需要兩種不同的光學理論/算法來分別處理光束在自由空間和微結構中的傳播，而其他一些過程僅使用純光線追跡來達到目標。由於模擬技術發展迅速，因此本文可能沒有涵蓋所有可用方法。如果用戶提供新訊息或有任何要求，請隨時與我們聯繫，我們可以相應地更新本文。

對于IPS、FFS等結構來說，其像素電極和公共電極在同一平面，因此不能用TechWiz LCD 1D軟件來仿真，需要至少能進行2維模擬的軟件，本案例使用TechWiz LCD 2D來模擬一下單疇IPS結構。1. 建模任務1.1 模擬條件模擬區域：0~10um邊界條件：Periodic偏移角度：0°單位長度：0.5um1.2堆棧結構2.

有色或變色眼科鏡片的資料也有提供 (參考資料1)。所有的資料都包含材料比重，這讓設計師可以估計高折射率玻璃的相對重量。玻璃庫中其他的材料是塑膠，例如CR-39、PC以及一系列眼科常見、名為thiourethanes的材料。這些資料都是從鏡片或材料的主要製造商取得的。各家製造商塑膠材料的折射率各有不同，除了因為結構本身的差異之外，各種不同的添加物也會造成影響，例如UV吸收劑、塑化劑、脫模劑。

但是，確定何時產生不同的解決方案很簡單。該解決方案與相應的 Hermite-Gaussian 結果不一致（對於大 e，它們應該如此）。在這種情況下，應使用高斯束腰光束選項來模擬光束模式。雷射的一般輸出可以從近軸波動方程的解中找到。對於雷射增益孔徑中的矩形、圓形和橢圓對稱性，已經找到了該方程的三組正交解。所有這三種解決方案都可以在物理光學傳播 (POP) 中的 OpticStudio 中建模。

對于IPS、FFS等結構來說，其像素電極和公共電極在同一平面，因此不能用TechWiz LCD 1D軟件來仿真，需要至少能進行2維模擬的軟件，本案例使用TechWiz LCD 2D來模擬一下單疇IPS結構。1. 建模任務1.1 模擬條件模擬區域：0~10um邊界條件：Periodic偏移角度：0°單位長度：0.5um1.2堆棧結構2.

我們在Techwiz LCD 1D 中對這兩種TN模式的光學特性進行分析，并討論液晶盒厚度的影響。 創建堆棧結構 設定仿真條件，并把上偏光片和液晶盒厚度設置為變量并輸入變量條件，最后執行結果分析。

結構創建完成后在TechWiz LCD 3D中加載并進行相關參數設置2.2軟件中二色性染料摻雜的設置此例需要設置染料摻雜設置透過率，并設置濃度添加偏振器2.3執行運算3.

我們使用TechWiz LCD 1D模擬一下菲涅爾反射。1. 創建材料使用TechWiz DB創建所需材料2. 搭建結構使用TechWiz LCD 1D建立結構3. 結果分析3.1正入射下厚度與反射率關系曲線3.2視角與反射率關系曲線

顏色變化對應於返迴光強度的變化。 這表明發生了重大變化。代表性的OCT系統如下所示。 光束應均勻地分成兩臂，其中一個在樣品體積上會聚，以最小化給定掃描的照射面積。 光源應為一束準直的寬帶光束；大帶寬意味著低相干性和高精度定位產生相干性的深度。深度掃描也稱為軸向掃描或A掃描，它根據反射到樣品中的距離來測量反射光的強度。

為了對VHG進行建模，需要使用高效的Kogelnik理論或嚴格耦合波分析（RCWA）等算法。 圖1（a）所示的SRG，可以通過幾種方法製造，如電子束寫入，光刻，納米壓印，或鑽石車削。與VHG不同，SRG沒有空間變化的折射率。相反，光柵的表面是由周期性的微結構組成的。為了對SRG進行建模，需要採用類似傅里葉模態法（也叫RCWA）的算法。本文將介紹VHG的工具。

我們在Techwiz LCD 1D 中對這兩種TN模式的光學特性進行分析，并討論液晶盒厚度的影響。 創建堆棧結構 設定仿真條件，并把上偏光片和液晶盒厚度設置為變量并輸入變量條件，最后執行結果分析。

偏光片是用二向色染料染色聚乙烯醇基薄膜，然后拉伸制成的。然后，TAC(三乙酰纖維素)附著在偏光片的頂部作為保護膜。PET(聚對苯二甲酸乙二醇酯)作為TAC薄膜的替代品，雖然性價比高，但它存在嚴重的光學問題，如色差和高遲滯性。為了解決這些問題，我們使用Techwiz LCD 1D提供基于相差的顏色分析。

我們使用TechWiz LCD 1D模擬一下菲涅爾反射。1. 創建材料 使用TechWiz DB創建所需材料2. 搭建結構使用TechWiz LCD 1D建立結構3. 結果分析3.1正入射下厚度與反射率關系曲線3.2視角與反射率關系曲線